ผลต่างระหว่างรุ่นของ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"

# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน]] (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ซึ่งคิดค้นโดย [[เอิร์นส์ท รุสกา]] ในปี พ.ศ. 2475 ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของ[[เซลล์]] โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษ

# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด]] (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดย[[เอ็ม วอน เอนเดนนี่]] สร้างสำเร็จในปี พ.ศ. 2481 ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ

 

 

[[หมวดหมู่:จุลทรรศนศาสตร์]]

[[หมวดหมู่:เทคนิคทางวิทยาศาสตร์]]