ผลต่างระหว่างรุ่นของ "ไดโอด"

เนื้อหาที่ลบ เนื้อหาที่เพิ่ม
Octahedron80 (คุย | ส่วนร่วม)
ไม่มีความย่อการแก้ไข
Octahedron80 (คุย | ส่วนร่วม)
เก็บกวาด
บรรทัด 1:
[[ไฟล์:Diode-closeup.jpg|thumb|200px|Figure 1: ภาพขยายของไดโอด แสดงรูปร่างของผลึกสารกึ่งตัวนำภายใน (ก้อนสีดำทางซ้ายมือ)]]
[[ไฟล์:Diode-photo.JPG|thumb|right|200px|ไดโอดชนิดต่างๆต่าง ๆ]]
 
'''ไดโอด''' ({{lang-en|diode}}) เป็น[[อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์]]ชนิดสองขั้ว ที่ออกแบบและควบคุมทิศทางการไหลของ[[ประจุไฟฟ้า]] มันจะยอมให้[[กระแสไฟฟ้า]]ไหลในทิศทางเดียว และกั้นการไหลในทิศทางตรงกันข้าม เมื่อกล่าวถึงไดโอด มักจะหมายถึงไดโอดที่ทำมาจาก[[สารกึ่งตัวนำ]] (Semiconductor diode) ซึ่งก็คือผลึกของสารกึ่งตัวนำที่ต่อกันได้ขั้วทางไฟฟ้าสองขั้ว<ref>{{cite web|url=http://www.element-14.com/community/docs/DOC-22519/l/physical-explanation--general-semiconductors |title=Physical Explanation - General Semiconductors |date=2010-05-25 |accessdate=2010-08-06}}</ref> ส่วนไดโอดแบบหลอดสุญญากาศ (Vacuum tube diode) ถูกใช้เฉพาะทางในเทคโนโลยีไฟฟ้าแรงสูงบางประเภท เป็นหลอดสุญญากาศที่ประกอบด้วยขั้วอิเล็ดโทรดสองขั้ว ซึ่งจะคือแผ่นตัวนำ (plate) และแคโทด (cathode)
 
ส่วนใหญ่เราจะใช้ไดโอดในการยอมให้กระแสไปในทิศทางเดียว โดยยอมให้กระแสไฟในทางใดทางหนึ่ง ส่วนกระแสที่ไหลทิศทางตรงข้ามกันจะถูกกั้น ดังนั้นจึงอาจถือว่าไดโอดเป็น[[วาล์ว]]ตรวจสอบแบบ[[อิเล็กทรอนิกส์]]อย่างหนึ่ง ซึ่งนับเป็นประโยชน์อย่างมากในวงจรอิเล็กทรอนิกส์ เช่น ใช้เป็นเรียงกระแสไฟฟ้าในวงจรภาคจ่ายไฟ เป็นต้น
 
อย่างไรก็ตามไดโอมีความสามารถมากกว่าการเป็นอุปกรณ์ที่ใช้เปิด-ปิดกระแสง่ายๆง่าย ไดโอดมีคุณลักษณะทางไฟฟ้าที่ไม่เป็นเชิงเส้น ดังนั้นมันยังสามารถปรับปรุงโดยการปรับเปลี่ยนโครงสร้างของพวกมันที่เรียกว่า[[จุดเชื่อมต่อ P-N]] มันถูกนำไปใช้ประโยชน์ในงานที่มีวัตถุประสงค์พิเศษ นั่นทำให้ไดโอดมีรูปแบบการทำงานได้หลากหลายรูปแบบ ยกตัวอย่างเช่น [[ซีเนอร์ไดโอด]] เป็นไดโอดชนิดพิเศษที่ทำหน้าที่รักษาระดับแรงดันให้คงที่ [[วาริแอกไดโอด]]ใช้ในการปรับแต่งสัญญาณในเครื่องรับวิทยุและโทรทัศน์ [[ทันเนลไดโอด]]ใช้ในการสร้างสัญญาณความถี่วิทยุ และ[[ไดโอดเปล่งแสง]]เป็นอุปกรณ์ที่สร้างแสงขึ้น ทันเนลไดโอดมีความน่าสนใจตรงที่มันจะมีค่าความต้านทานติดลบ ซึ่งเป็นประโยชน์มากเมื่อใช้ในวงจรบางประเภท
 
ไดโอดตัวแรกเป็นอุปกรณ์[[หลอดสุญญากาศ]] โดยไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำตัวแรกถูกค้นพบจากการทดสอบความสามารถในการเรียงกระแสของผลึกโดย[[คาร์ล เฟอร์ดินานด์ บรวน]] นักฟิสิกส์ชาวเยอรมัน ในปี พ.ศ. 2417 เรียกว่า cat's whisker diodes และได้ถูกพัฒนาในปี พ.ศ. 2449 โดยทำไดโอดมาากมากผลึกแร่กาลีนา แต่ทุกวันนี้ไดโอดที่ใช้ทั่วไปผลิตมาจาก[[สารกึ่งตัวนำ]] เช่น [[ซิลิกอน]] หรือ [[เจอร์เมเนียม]]<ref>{{cite web|url=http://www.element-14.com/community/docs/DOC-22518/l/the-constituents-of-semiconductor-components |title=The Constituents of Semiconductor Components |date=2010-05-25 |accessdate=2010-08-06}}</ref>
 
ไดโอดเป็นอุปกรณ์ที่ทำจากสารกึ่งตัวนำ p - n สามารถควบคุมให้กระแสไฟฟ้าจากภายนอกไหลผ่านตัวมันได้ทิศทางเดียว ไดโอดประกอบด้วยขั้ว 2 ขั้ว คือ แอโนด (Anode; A) ซึ่งต่ออยู่กับสารกึ่งตัวนำชนิด p และ แคโธด (Cathode; K) ซึ่งต่ออยู่กับสารกึ่งตัวนำชนิด n
 
== ประวัติ ==
[[ไฟล์:Diode tube schematic.svg|thumb|200px|โครงสร้างของไดโอดแบบหลอดสุญญากาศ อาจมีเพียงไส้หลอดเปล่าๆเปล่า หรือมีฉนวนคลุมดังภาพ]]
ถึงแม้ว่าไดโอดแบบผลึกสารกึ่งตัวนำ (Crystal semiconductor diode) จะเป็นที่นิยมมาก่อนไดโอดแบบใช้ความร้อน (Thermionic diode) แต่ไดโอดทั้งสองแบบก็มีพัฒนาการเป็นแบบคู่ขนาน โดยในปี พ.ศ. 2416 [[เฟรดเดอริก กัธรี]] ค้นพบหลักการพื้นฐานในการทำงานของไดโอดแบบใช้ความร้อน<ref>[http://nobelprize.org/physics/laureates/1928/richardson-lecture.pdf 1928 Nobel Lecture:] Owen W. Richardson, “Thermionic phenomena and the laws which govern them, ” December 12, 1929</ref> กัธรีค้นพบว่าประจุบวกในอิเล็กโทรสโคป สามารถคายประจุได้เมื่อนำแผ่นกราวด์มาโดนอิเล็กโทรสโคป แต่จะไปเกิดในประจุลบ เปรียบเสมือนกระแสไฟฟ้าที่ไหลไปในทิศทางเดียวเท่านั้น
 
จากหลักการข้างต้น ในวันที่ 13 กุมภาพันธ์ พ.ศ. 2423 [[โธมัส อัลวา เอดิสัน]] ได้ตรวจสอบไส้หลอดไฟว่าทำไมไส้หลอดคาร์บอนบริเวณปลายฝั่งที่ต่อกับขั้วบวกจึงถูกเผาไหม้อยู่เสมอ เอดิสันจึงสร้างกระเปาะแบบพิเศษที่มีแผ่นตัวนำโลหะ (plate) ที่ปิดสนิทอยู่ในหลอดแก้ว เมื่อเอดิสันได้ทดสอบอุปกรณ์ชิ้นนี้แล้ว ก็ทำให้เขายืนยันได้ว่ากระแสที่มองไม่เห็นนั้นจะไหลจากไส้หลอดผ่านสุญญากาศไปยังแผ่นตัวนำโลหะ ซึ่งจะไปทางเดียวเท่านั้น คือแผ่นตัวนำโลหะที่ติดอยู่กับแหล่งจ่ายแรงดันขั้วบวก
 
เอดิสันวางแผนที่จะใช้อุปกรณ์นี้แทนที่ตัวต้านทานในวงจรโวลต์มิเตอร์กระแสตรง สิ่งประดิษฐ์ดังกล่าวได้สิทธิบัตรในปี พ.ศ. 2427<ref>Thomas A. Edison "Electrical Meter" {{US patent|307030}} Issue date: Oct 21, 1884</ref> ไม่มีใครนำอุปกรณ์นี้ไปใช้งานจริงในเวลานั้น แต่การจดสิทธิบัตรเอาไว้ก่อนนั้นเป็นเสมือนการปกป้องสิทธิ์ของตนเองเอาไว้ก่อน เราจึงเรียกปรากฏการณ์ที่เกิดขึ้นในอุปกรณ์ตัวนี้ว่า "ปรากฏการณ์เอดิสัน" (Edison effect)
 
20ปีต่อมา [[จอห์น แอมบรอส เฟรมมิ่ง]] (ที่ปรึกษาทางวิทยาศาสตร์ของ[[บริษัทมาร์โคนี]]ของ[[กูลเยลโม มาร์โกนี]] และเป็นอดีตลูกจ้างของเอดิสัน) ตระหนักถึงความสำคัญของปรากฏการณ์เอดิสันว่าสามารถใช้ในการตรวจจจับ[[คลื่นวิทยุ]]ได้อย่างแม่นยำ เฟรมมิ่งได้จดสิทธิบัตรไดโอดแบบใช้ความร้อนเป็นตัวแรกที่เกาะ[[บริเตน|บริเตนใหญ่]]เมื่อวันที่ 16 พฤศจิกายน พ.ศ. 2447<ref>{{cite web|url=http://www.jmargolin.com/history/trans.htm |title=Road to the Transistor |publisher=Jmargolin.com |date= |accessdate=2008-09-22}}</ref> (ใน {{US patent|803684}} กล่าวว่ามีการจดสิทธิบัตรในเดือนพฤศจิกายน พ.ศ. 2448)
บรรทัด 24:
ในปี พ.ศ. 2417 นักวิทยาศาสตร์ชาวเยอรมัน [[คาร์ล เฟอร์ดินานด์ บรวน]] ค้นพบคุณสมบัติการนำไฟฟ้าข้างเดียวของผลึก<ref>[http://chem.ch.huji.ac.il/~eugeniik/history/braun.htm Historical lecture on Karl Braun]</ref> บรวนจดสิทธิบัตรการเรียงกระแสของผลึกในปี พ.ศ. 2442<ref>{{cite web|url=http://encyclobeamia.solarbotics.net/articles/diode.html |title=Diode |publisher=Encyclobeamia.solarbotics.net |date= |accessdate=2010-08-06}}</ref> โดยการเรียงตัวของผลึกคอปเปอร์ออกไซด์กับเซเลเนียมถูกนำไปประยุกต์ใช้ในงานไฟฟ้ากำลังในอีก 20 ปีต่อมา
 
[[จักกฤษ จันทรา โบส]] นักวิทยาศาสตร์ชาวอินเดียค้นพบการใช้ประโยชน์ของการเรียงกระแสในผลึกมาใช้ในการตรวจจับคลื่นวิทยุเป็นครั้งแรกในปี พ.ศ. 2437 การใช้ผลึกในการตรวจจับคลื่นวิทยุถูกพัฒนาให้ใช้ได้จริงในทางปฏิบัติในเครื่องรับวิทยุแบบไร้สายโดย[[กรีนลีฟ ไวท์เทอร์ พิคการ์ด]]ผู้บุกเบิกวงการวิทยุในสหรัฐอเมริกา ได้คิดค้นการนำผลึก[[ซิลิกอน]]มาใช้ตรวจรับสัญญาณในปี พ.ศ. 2446 และทำการจดสิทธิบัตรในวันที่ 20 พฤศจิกายน พ.ศ. 2449<ref>{{US patent|836531}}</ref> ส่วนนักทดลองคนอื่นๆอื่น ๆ ก็ได้นำธาตุนานาชนิดมาทำการทดลอง แต่ที่นิยมใช้ในวงกว้างมากที่สุดคือแร่[[กาลีนา]] (lead sulfide สารประกอบของตะกั่วกับกำมะถัน)
 
ในช่วงระยะเวลาแห่งการค้นพบนั้น อุปกรณ์ดังกล่าวถูกตั้งชื่อว่า "ไดโอด" โดยผู้ที่ตั้งชื่อนั่นคือ [[วิลเลียม เฮนรี เอคเกิล]] นักฟิสิกส์ชาวอังกฤษ โดยคำนี้มาจากภาษากรีกคำว่า ''dia'' แปลว่าผ่าน และ ''ode'' (จากคำว่า ''ὅδος'') แปลว่าเส้นทาง
 
== ไดโอดแบบใช้ความร้อนและไดโอดแบบสภาวะแก๊ส ==
 
[[ไฟล์:Vacuum diode.svg|left|150px|thumb|สัญลักษณ์ของไดโอดแบบใช้ความ จากด้านบนถึงด้านล่างคือขั้วบวก (anode), ขั้วลบ (cathode) และไส้ความร้อน (heater filament)]]
ไดโอดแบบใช้ความร้อนเป็นหลอดสุญญากาศ ภายในประกอบไปด้วยขั้วไฟฟ้า (electrode) ล้อมรอบด้วยสุญญากาศภายในหลอดแก้ว คล้าย คล้ายๆ กับ[[หลอดไส้]] (incandescent light bulb)
 
ในไดโอดแบบใช้ความร้อนนั้น กระแสจะไหลผ่านไส้ความร้อนและให้ความร้อนแก่ขั้วลบหรือขั้วแคโทด ซึ่งขั้วไฟฟ้าจะทำมาจาก[[แบเรียม]]และ[[สตรอนเชียม]][[ออกไซด์]] ซึ่งเป็น[[ออกไซด์]]ของ[[โลหะแอลคาไลน์เอิร์ท]] ซึ่งมี[[สภาวะงาน]] (work function) ต่ำ (บางครั้งจะใช้วิธีให้ความร้อนโดยตรง โดยการใช้ไส้หลอดเป็น[[ทังสเตน]] แทนไส้ความร้อนกับขั้วแคโทด) ความร้อนอันเกิดมาจากการส่งผ่านความร้อนของ[[อิเล็กตรอน]]ไปสู่สุญญากาศ ขั้นต่อไปคือขั้วบวกหรือขั้วแอโนดที่ล้อมรอบไส้ความร้อนอยู่จะทำหน้าที่เป็นประจุบวก นั่นจะเกิดการส่งผ่านอิเล็กตรอนด้วย[[ไฟฟ้าสถิตย์]] อย่างไรก็ตามอิเล็กจะไม่ถูกปล่อยไปโดยง่ายจากขั้วแอโนดเมื่อเราต่อกลับขั้ว เพราะขั้วแอโนดไม่มีความร้อน ดังนั้นไดโอดแบบใช้ความร้อนจะทำให้อิเล็กตรอนไหลทิศทางเดียว
 
สำหรับคริสต์ศตวรรษที่ 20 ไดโอดแบบใช้ความร้อนถูกใช้ในสัญญาณอนาล็อก และใช้เรียงกระแสในแหล่งจ่ายกำลังมากมาย ทุกวันนี้ไดโอดที่เป็นหลอดสุญญากาศใน[[กีตาร์ไฟฟ้า]]และ[[เครื่องขยายเสียง]]แบบไฮ-เอน รวมทั้งอุปกรณ์ที่ใช้แรงดันสูงๆสูง ๆ
 
== ไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำ ==
[[ไฟล์:Diode pinout th.svg|thumb|right|250px|ไดโอดเทียบกับสัญลักษณ์ของไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำ (บนสุด) โดยแคบสีดำแสดงฝั่งที่เป็นขั้วแคโทด]]ไดโอดชนิด[[สารกึ่งตัวนำ]]แบบใหม่ๆใหม่ ๆ มักจะใช้ผลึกสารกึ่งตัวนำจำพวก[[ซิลิกอน]]ที่ไม่บริสุทธิ์โดยทำการเจือสารให้เกิดฝั่งลบและฝั่งบวก โดยฝั่งลบจะมีประจุลบคืออิเล็กตรอนมากกว่าเรียกว่า "สารกึ่งตัวนำชนิด n (n-type semiconductor) " ส่วนฝั่งบวกจะมีประจุบวกหรือโฮลเรียกว่า "สารกึ่งตัวนำชนิด p (p-type semiconductor) " โดยไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำเกิดมาจากการนำสารกึ่งตัวนำทั้งสองชนิดนี้มาติดด้วยวิธีการพิเศษ โดยส่วนที่สารกึ่งตัวนำทั้งสองชนิดอยู่ติดกันนั้นเรียกว่า "รอยต่อ p-n (p-n junction) " ไดโอดชนิดนี้จะยอมให้อิเล็กตรอนไหลผ่านจากสารกึ่งตัวนำชนิด n ไปยังสารกึ่งตัวนำชนิด p เท่านั้น จึงเรียกฝั่งที่มีสารกึ่งตัวนำชนิด n ว่าแคโทด และฝั่งที่มีสารกึ่งตัวนำชนิด p ว่าแอโนด แต่ถ้าพูดถึงทิศทางของกระแสสมมติที่ไหลสวนทางกับกระแสอิเล็กตรอนนั้น จะเห็นว่ากระแสสมติจะไหลจากขั้วแอโนดหรือสารกึ่งตัวนำชนิด p ไปยังขั้วแคโทดหรือสารกึ่งตัวนำชนิด n เพียงทิศทางเดียวเท่านั้น
 
ไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำอีกรูปแบบหนึ่งที่สำคัญก็คือ [[ไดโอดชอทท์กี้]] (Schottky diode) ซึ่งมีหน้าสัมผัสระหว่างโลหะกับสารกึ่งตัวนำมากกว่ารอยต่อ p-n
บรรทัด 44:
=== คุณลักษณะเฉพาะของกระแสและแรงดัน ===
พฤติกรรมของไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำในวงจรจะก่อให้เกิด[[คุณลักษณะเฉพาะของกระแสและแรงดัน]] (current-voltage characteristic) หรือเรียกว่ากราฟ I-V (กราฟด้านล่าง) รูปร่างของเส้นโค้งถูกกำหนดจากส่งผ่านประจุผ่านเขตปลอดพาหะ (depletion region หรือ depletion layer) ซึ่งอยู่ใยรอยต่อ p-n
 
 
[[ไฟล์:Diode-IV-Curve.svg|frame|none|กราฟคุณสมบัติเฉพาะของกระแสและแรงดันของรอยต่อ p-n ของไดโอด]]
เส้น 52 ⟶ 51:
สมการของไดโอดชอทท์กี้ในอุดมคติหรือกฎของไดโอด (ชื่อชอทท์กี้ได้มาจาก[[วิลเลียม เบรดฟอร์ด ชอทท์กี้]] ผู้ร่วมประดิษฐ์[[ทรานซิสเตอร์]] "ไม่ใช่"[[วัลเตอร์ เฮอร์มานน์ ชอทท์กี้]] ผู้ประดิษฐ์เทโทรด) ได้ให้สมการที่แสดงถึงกราฟคุณลักษณะเฉพาะของกระแสและแรงดันเอาไว้ว่า
 
: <math>I=I_\mathrm{S} \left( (e^{V_\mathrm{D}/ (n V_\mathrm{T})}-1 \right), \, </math>
 
เมื่อ
: ''I'' คือกระแสที่ไหลผ่านไดโอด
: ''I''<sub>S</sub> คือกระแสอิ่มตัวเมื่อทำการไบอัสกลับ
: ''V''<sub>D</sub> คือแรงดันที่ตกคร่อมไดโอด
: ''V''<sub>T</sub> คือค่าความต่างศักย์อันเนื่องมาจากความร้อน
: ''n'' คือค่าตัวประกอบอุดมคติ (ideaity factor) หรือค่าตัวประกอบคุณภาพ (quality factor) หรือสัมประสิทธิ์การส่งผ่าน (emission coefficient) ทั้งนี้ค่าตัวประกอบอุดมคติมีค่าอยู่ที่ 1 ถึง 2 ขึ้นอยู่กับกระบวนการผลิตและวัสดุที่นำมาใช้เป็นสารกึ่งตัวนำ ในหลายกรณีสามารถประมาณค่าเท่ากับ 1 ได้ (ดังนั้นค่า n จึงอาจถูกละไว้)
ค่าความต่างศักย์อันเนื่องมาจากความร้อน (thermal voltage) ''V''<sub>T</sub> มีค่าประมาณ 25.85 mV ที่อุณหภูมิ 300 K ซึ่งเป็นอุณหภูมิห้องปฏบัติการณ์ แต่เราก็สามารถหาค่าดังกล่าวเมื่ออุณหภูมิอื่นๆอื่น ๆ ได้ จากสูตร:
 
: <math>V_\mathrm{T} = \frac{k T}{q} \, , </math>
 
เมื่อ
: ''k'' คือค่าคงที่ของ[[ลุดวิก โบลทซ์มันน์|โบลต์ซมานน์]] มีค่าเท่ากับ 1.3806503{{e|-23}} [[จูล|J]] [[เคลวิน|K]]<sup>−1</sup>
: ''T'' คืออุณหภูมิสัมบูรณ์ที่รอบต่อ p-n
: ''q'' คือประจุของ[[อิเล็กตรอน]] มีค่าเท่ากับ 1.602176487{{e|-19}} [[คูลอมป์|C]]
 
สมการของไดโอดชอทท์กี้ในอุดมคติหรือกฎของไดโอดนั้นเกิดมาจากการอ้างสมมติฐานของกระบวนการเกิดการกระแสไฟฟ้าในไดโอดว่า (เนื่องจาก[[สนามไฟฟ้า]]) เป็นการลอยผ่าน, การแพร่, และการรวมความร้อนอีกครั้ง (thermal recombination-generation) นอกจากนี้ยังสันนิษฐานว่ากระแสจากการรวมตัวอีกครั้ง (recombination-generation: R-G) .นเขตปลอดพาหะไม่มีนัยสำคัญใดๆใด ๆ นั่นหมายความว่าสมการของไดโอดชอทท์กี้ไม่ต้องคำนวณผลของกระบวนการที่เกี่ยวข้องกับการพังทลายเมื่อกระแสย้อนกลับและโฟตอนที่ช่วยให้เกิด R-G
 
=== พฤติกรรมของสัญญาณขนาดเล็ก ===
 
ในการออกแบบวงจร แบบจำลองของสัญญาณขนาดเล็กจากพฤติกรรมของไดโอดถูกนำมาใช้งานอยู่บ่อยครั้ง
 
แบบจำลองสัญญาณขนาดเล็ก (Small-signal model) เป็นเทคนิคการวิเคราะห์ทางวิศวกรรมไฟฟ้า ที่อาศัยการประมาณพฤติกรรมของอุปกรณ์ทางไฟฟ้าที่ไม่มีความเป็นเชิงเส้น ด้วยสมการเชิงเส้น ความเป็นเชิงเส้นนี้ขึ้นอยู่กับจุดไบอัสกระแสตรง (DC bias point) ของอุปกรณ์ (นั่นก็คือระดับของ แรงดัน/กระแส ที่แสดงออกเมื่อไม่มีสัญญาณที่ถูกนำมาใช้) และสามารถทำให้ถูกต้องได้ด้วยการมองที่จุดนี้อีกด้วย
 
==== ความต้านทาน ====
เมื่อใช้สมการชอทท์กี้ไดโอด ค่าความต้านสัญญาณขนาดเล็ก (<math>r_D</math>) ของไดโอดสามารถเข้ามาเกี่ยวกับจุดปฏบัติการณ์ (Q-point) ที่กระแสไบอัสกระแสตรง (<math>I_Q</math>) และแรงดันใช้งานที่จุดปฏิบัติการณ์ (<math>V_Q</math>) <ref name=jaeger/> แรกเริ่มเดิมทีค่าความนำสัญญาณขนาดเล็ก (<math>g_D</math>) ถูกตั้งขึ้น นั่นคือประจุไฟฟ้าในกระแสไฟฟ้าที่ไหลในไดโอดที่เกิดมาจากการเปลี่ยนแปลงเล็กๆเล็ก ๆ ของแรงดันที่ตกคร่อมไดโอดหารด้วยแรงดันตกคร่อมไดโอดนั้น ดังสมการ
 
:: <math> g_D=\frac{dI}{dV}\Big|_Q = \frac{I_0}{V_T} e^{V_Q/V_T} \approx \frac{I_Q}{V_T} </math>
 
การประมาณค่าเกิดมาจากการอนุมานว่ากระแสไบอัส <math>I_Q</math> นั้นมากพอที่จะทำให้ค่าตัวประกอบ (factor) ของส่วนที่ละเลยได้จากสมการชอทท์กี้มีค่าเท่า 1 โดยการประมาณนี้มีความถูกต้องแม้แรงดันจะมีค่าต่ำ เพราะแรงดันอันเนื่องมาจากความร้อน (thermal voltage) <math>V_T \approx 26\, \mathrm{mV}</math> ที่อุณหภูมิ 300 เคลวิน (27 องศาเซลเซียส) ดังนั้น <math>V_Q/V_T</math> มีแนวโน้มมากขึ้น หมายความว่าตัวชี้กำลังมีค่าสูงมาก
 
แต่ไม่ใช่กับค่าความต้านทานสัญญาณขนาดเล็ก <math>r_D</math> ซึ่งเป็นส่วนกลับของค่าความนำสัญญาณขนาดเล็ก ค่าความต้านทานสัญญาณขนาดเล็กไม่ขึ้นอยู่กับไฟฟ้ากระแสสลับ แต่จะขึ้นอยู่กับไฟฟ้ากระแสตรงเท่านั้น ดังสมการ
 
:: <math>r_D=\frac {V_T}{I_Q}</math>
 
==== ความเก็บประจุ ====
ประจุไฟฟ้าจะนำพากระแสไฟฟ้า <math>I_Q</math> ตามสูตร
 
: <math>Q=I_Q\tau_F +Q_J</math>
 
เมื่อ <math>\tau_F</math> คือเวลาที่ประจุเคลื่อนที่ไป:<ref name=jaeger>{{cite book | title = Microelectronic Circuit Design | edition= second | author = R.C. Jaeger and T.N. Blalock | publisher = McGraw-Hill | year = 2004 | isbn = 0-07-232099-0 | url = http://books.google.com/?id=u6vH4Gsrlf0C&pg=PA883&dq=%22Microelectronic+Circuit+Design%22+inauthor:Jaeger+small-signal+diode }}</ref> ส่วนแรกตือประจุที่เคลื่อนที่ผ่านไดโอดแล้วเกิดกระแส <math>I_Q</math> ไหลผ่านไดโอด ที่ ส่วนที่สองคือประจุที่เก็บสะสมอยู่ที่รอยต่อ p-n จึงมีคุณลักษณะคล้ายกับ[[ตัวต้านทาน]]ง่ายๆง่าย มีคู่ขั้วทางไฟฟ้าที่มีประจุตรงข้ามกัน ประจุนั้นถูกกักเก็บที่ไดโอดอาศัยแค่แรงดันที่ตกคร่อมตัวมันเพียงแค่นั้น โดยไม่คำนึงถึงกระแสไฟฟ้าที่ไหลผ่าน
 
การหาค่าความเก็บประจุของไดโอด <math>C_D</math> หาได้จากสมการ
 
:: <math> C_D = \frac{dQ}{dV_Q} =\frac{dI_Q}{dV_Q} \tau_F + \frac {dQ_J}{dV_Q} \approx \frac {I_Q}{V_T} \tau_F+ C_J </math>
 
เมื่อ <math> C_J = \begin{matrix}\frac {dQ_J}{dV_Q}\end{matrix}</math> คือค่าความเก็บประจุที่รอยต่อ p-n โดยประจุในส่วนแรกเรียกว่า ''ค่าความเก็บประจุแพร่'' (diffision capacitance) เพราะเกี่ยวข้องกับกระแสที่แพร่ตรงรอยต่อของไดโอด
 
=== การฟื้นตัวกลับ ===
ช่วงท้ายของการไบอัสตรงของไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำ จะเกิดกระไหลไฟฟ้าที่ไหลย้อนกลับในช่วงระยะเวลาสั้นๆสั้น ตัวอุปกรณ์จะยังไม่สามารถป้องกันกระแสไหลย้อนกลับได้เต็มที่จนกระทั่งกระแสที่เกิดไหลย้อนกลับนั้นได้สิ้นสุดลง<ref>http://en.wikipedia.org/wiki/Talk:Diode#Reverse_recovery_time</ref>
 
ผลกระทบที่เกิดขึ้นนั้นมีความสลักสำคัญเมื่อมีการสวิตชิ่ง (switching) ของกระแสที่สูงและรวดเร็วมาก (di/dt มีค่า 100 A/µs หรือมากกว่านั้น) <ref>[http://ecee.colorado.edu/~ecen5817/hw/hw1/Diode%20reverse%20recovery%20in%20a%20boost%20converter.pdf]</ref> ค่าที่แน่นอนของ "เวลาฟื้นตัวกลับ (reverse recovery time) " <math>t_r</math> (อยู่ในช่วงเวลาเป็นนาโนวินาที) อาจจะเคลื่อนย้าย "ประจุฟื้นตัวกลับ (reverse recovery charge) " <math>Q_r</math> (อยู่ในช่วงนาโนคูลอมป์) ออกจากไดโอด ในระยะเวลาระหว่างฟื้นตัวนี้ไดโอดจะสามารถทำงานในทิศทางตรงข้ามได้ แน่นอนว่าในความเป็นจริงผลกระทบนี้มีความสำคัญในการพิจารณาความสูญเสียที่เกิดขึ้นอันเนื่องมาจากไดโอดไม่เป็นอุดมคติ<ref>[http://ecee.colorado.edu/~ecen5797/course_material/SwLossSlides.pdf]</ref> อย่างไรก็ตามอัตราการแกว่ง (slew rate) ของกระแสไฟฟ้านั้นรุนแรงมาก (di/dt มีค่า 10 A/µs หรือนอ้ยกว่านั้น) ผลกระทบนี้ยังอยู่ในเกณฑ์ที่ปลอดภัยจึงละเลยไว้ได้<ref>[http://ecee.colorado.edu/~ecen5817/hw/hw1/Diode%20reverse%20recovery%20in%20a%20boost%20converter.pdf]</ref> ในการใช้งานไดโอดส่วนใหญ่จึงไม่มีผลกระทบที่สำคัญมากนัก
 
กรณีที่กระแสไหลย้อนกลับอย่างฉับพลันเมื่อประจุไฟฟ้าที่ถูกเก็บสะสมปลอดพาหะแล้วจะนำไปใช้ประโยชน์ในขั้นตอนการฟื้นตัวของไดโอดสำหรับกำเนิดสัญญาณพัลส์สั้นโดยเฉพาะ
เส้น 110 ⟶ 109:
== ประเภทของไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำ ==
 
===== [[ไดโอดเปล่งแสง|ไดโอดเปล่งแสงหรือแอลอีดี (Light Emitting Diode ; LED)]] =====
LED เป็นไดโอดที่ใช้สารประเภทแกลเลี่ยมอาร์เซ็นไนต์ฟอสไฟต์ (Gallium Arsenide Phosphide ; GaAsP) หรือสารแกลเลี่ยมฟอสไฟต์ (Gallium Phosphide ; GaP) มาทำเป็นสารกึ่งตัวนำชนิด p และ n แทนสาร Si และ Ge สารเหล่านี้มีคุณลักษณะพิเศษ คือ สามารถเรืองแสงได้เมื่อได้รับไบอัสตรง การเกิดแสงที่ตัว LED นี้เราเรียกว่า อิเล็กโทรลูมินิเซนต์ (Electroluminescence) ปัจจุบันนิยมใช้ LED แสดงผลในเครื่องมืออิเล็กทรอนิกส์ เช่น เครื่องคิดเลข, นาฬิกา เป็นต้น
 
เส้น 117 ⟶ 116:
 
===== ไดโอดกำลัง (Power Diode) =====
ไดโอดกำลัง เป็นไดโอดที่ออกแบบให้บริเวณรอยต่อมีช่วงกว้างมากกว่าไดโอดทั่วไป เพื่อนำไปใช้กับงานที่มีกำลังไฟฟ้าสูง กระแสสูงและทนต่ออุณหภูมิสุงได้ เช่น ประกอบเป็นวงจรเรียงกระแส ในอิเล็กทรอนิกส์กำลัง เป็นต้น จะเห็นได้ว่าเมื่อพิกัดกระแสไฟฟ้ามีค่าหลายร้อยแอมป์ ทำให้ไดโอดมีอุณหภูมิขณะทำงานสูง โดยทั่วไปจึงนิยมใช้ร่วมกับตัวระบายความรัอน (Heat Sinks) เพื่อเพิ่มพื้นที่ระบายความรัอนภายในตัวไดโอดกำลัง
 
===== [[วาริแคป|ไดโอดวาแรกเตอร์หรือวาริแคป (Varactor or Varicap Diode)]] =====
ไดโอดวาแรกเตอร์หรือวาริแคปเป็นไดโอดที่มีลักษณะพิเศษ คือ สามารถปรับค่าคาปาซิแตนซ์เชื่อมต่อ (Ct) ได้โดยการปรับค่าแรงดันไบอัสกลับ ไดโอดประเภทนี้มีโครงสร้างเหมือนกับไดโอดทั่วไป ขณะแรงดันไบอัสกลับ (Reverse Bias Voltage ; Vr) มีค่าต่ำ Depletion Region จะแคบลงทำให้ Ct ครงรอบต่อมีค่าสูง แต่ในทางตรงข้ามถ้าเราปรับ Vr ให้สูงขึ้น Depletion Region จะขยายกว้างขึ้น ทำให้ Ct มีค่าต่ำ
จากลักษณะดังกล่าว เราจึงนำวาริแคปไปใช้ในวงจรปรับความถี่ เช่น วงจรจูนความถี่อัตโนมัติ (Automatic Fine Tunning ; AFC) และวงจรกรองความถี่ซึ่งปรับช่วงความถี่ได้ตามต้องการ (Variable Bandpass Filter) เป็นต้น
 
===== [[ซีเนอร์ไดโอด|ซีเนอร์ไดโอด (Zener Diode)]] =====
ซีเนอร์ไดโอดเป็นอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่นำกระแสได้เมื่อได้รับไบอัสกลับ และระดับแรงดันไบอัสกลับที่นำซีเนอร์ไดโอดไปใช้งานได้เรียกว่า ระดับแรงดันพังทลายซีเนอร์ (Zener Breakdown Voltage ; Vz) ซีเนอร์ไดโอดจะมีแรงดันไบอัสกลับ (Vr) น้อยกว่า Vz เล็กน้อย ไดโอดประเภทนี้เหมาะที่จะนำไปใช้ควบคุมแรงดันที่โหลดหรือวงจรที่ต้องการแรงดันคงที่ เช่น ประกอบอยู่ในแหล่งจ่ายไฟเลี้ยง หรือโวลเทจเรกูเลเตอร์
 
== ไดโอดในทางอุดมคติ ==
ไดโอดในอุดมคติ (Ideal Diode) มีลักษณะเหมือนสวิตช์ที่สามารถนำกระแสไหลผ่านได้ในทิศทางเดียว
ถ้าต่อขั้วแบตเตอรี่ให้เป็นแบบไบอัสตรงไดโอดจะเปรียบเป็นเสมือนกับสวิตช์ที่ปิด (Close Switch) หรือไดโอดลัดวงจร (Short Circuit) Id ไหลผ่านไดโอดได้ แต่ถ้าต่อขั้วแบตเตอรีแบบไบอัสกลับ ไดโอดจะเปรียบเป็นเสมือนสวิตช์เปิด (Open Switch) หรือเปิดวงจร (Open Circuit) ทำให้ Id เท่ากับศูนย์
 
== ไดโอดในทางปฏิบัติ ==
ไดโอดในทางปฏิบัติ (Practical Diode) มีการแพร่กระจายของพาหะส่วนน้อยที่บริเวณรอยต่ออยู่จำนวนหนึ่ง ดังนั้น ถ้าต่อไบอัสตรงให้กับไดโอดในทางปฏิบัติก็จะเกิด แรงดันเสมือน (Ge >= 0.3V ; Si >= 0.7V) ซึ่งต้านแรงดันไฟฟ้าที่จ่ายเพื่อการไบอัสตรง ขนาดของแรงดันเสมือนจึงเป็นตัวบอกจุดทำงาน ดังนั้น จึงเรียก "แรงดันเสมือน" อีกอย่างหนึ่งว่า "แรงดันในการเปิด" (Turn-on Voltage ; Vt )
 
กรณีไบอัสกลับ เราทราบว่า Depletion Region จะขยายกว้างขึ้น แต่ก็ยังมีพาหะข้างน้อยแพร่กระจายที่รอยต่ออยู่จำนวนหนึ่ง แต่ก็ยังมีกระแสรั่วไหลอยู่จำนวนหนึ่ง เรียกว่า กระแสรั่วไหล (Leakage Current) เมื่อเพิ่มแรงดันไฟฟ้าขึ้นเรื่อยๆเรื่อย ๆ กระแสรั่วไหลจะเพิ่มขึ้นจนถึงจุดทีไดโอดนำกระแสเพิ่มขึ้นมาก ระดับกระแสที่จุดนี้ เรียกว่า "กระแสอิ่มตัวย้อนกลับ" (Reverse Saturation Current ; Is ) แรงดันไฟฟ้าที่จุดนี้ เรียกว่า แรงดันพังทลาย (Breakdown Voltage) และถ้าแรงดันไบอัสสูงขึ้นจนถึงจุดสูงสุดที่ไดโอดทนได้ เราเรียกว่า "แรงดันพังทลายซีเนอร์" (Zener Breakdown Voltage ; Vz) ถ้าแรงดันไบอัสกลับสูงกว่า Vz จะเกิดความร้อนอย่างมากที่รอยต่อของไดโอด ส่งผลให้ไดโอดเสียหายหรือพังได้ แรงดันไฟฟ้าที่จุดนี้เราเรียกว่า แรงดันพังทลายอวาแลนซ์ (Avalance Breakdown Voltage) ดังนั้น การนำไดโอดไปใช้งานจึงใช้กับการไบอัสตรงเท่านั้น
 
== ผลกระทบของอุณหภูมิ (Temperature Effects) ==
จากการทดลองพบว่า Is ของ Si จะมีค่าเพิ่มขึ้นเกือบ 2 เท่า ทุกๆทุก ๆ ครั้งที่อุณหภูมิเพิ่มขึ้น 10 องศาเซลเซียส ขณะที่ Ge มีค่า Is เป็น 1 หรือ 2 ไมโครแอมป์ ที่ 25 องศาเซลเซียส แต่ที่ 100 องศาเซลเซียสจะมีค่า Is เพิ่มขึ้นเป็น 100 micro-amp ระดับกระแสไฟฟ้าขนาดนี้จะเป็นปัญหาต่อการเปิดวงจรเรื่องจากได้รับการไบอัสกลับ เพราะแทนที่ Id จะมีค่าใกล้เคียงศูนย์ แต่กลับนำกระแสได้จำนวนหนึ่งตามอุณหภูมิที่เพิ่มขึ้น
 
== อุปกรณ์ที่เกี่ยวข้อง ==
* [[วงจรเรียงกระแส|ตัวเรียงกระแส]]
* [[ทรานซิสเตอร์]]
* [[ไทริสเตอร์]] หรือ SCR (Silicon Controlled Rectifier)
* [[ไตรแอก]]
* [[ไดแอก]]
* [[วาริสเตอร์]]
 
== อ้างอิง ==
เข้าถึงจาก "https://th.wikipedia.org/wiki/ไดโอด"