ผลต่างระหว่างรุ่นของ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"

# กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ซึ่งคิดค้นโดย เอิร์นส์ท รุสกา ในปีพ.ศ. 2475 ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของ[[เซลล์]] โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษ

# กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดยเอ็ม วอน เอนเดนนี่ สร้างสำเร็จในปีพ.ศ. 2481 ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ

 

[[หมวดหมู่:ทัศนศาสตร์]]

[[หมวดหมู่:อุปกรณ์วิทยาศาสตร์]]

[[หมวดหมู่:จุลทรรศนศาสตร์]]

 

[[af:Elektronmikroskopie]]

[[stq:Elektronemikroskop]]

[[sv:Elektronmikroskop]]

[[te:ఎలక్ట్రాన్ సూక్ష్మదర్శిని]]

[[uk:Електронний мікроскоп]]