ผลต่างระหว่างรุ่นของ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด"

'''กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด''' ('''SEM''') ({{lang-en|Scanning Electron microscope}}) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี [[พ.ศ. 2481]] โดย[[เอม วอง เอนเดนนี]] ใช้ศึกษาโครงส้รางโครงสร้างภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของ[[เซลล์]] ผิว[[โลหะ]] มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอ[[คอมพิวเตอร์]]เป็นภาพ 3 มิติ มี[[กำลังขยาย]]สูงหลายหมื่นเท่า