เนื้อหาที่ลบ เนื้อหาที่เพิ่ม
|
|
|
== ชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ==
ในปัจจุบันกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมี 2 ชนิด
# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบชนิดส่องผ่าน]] (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ซึ่งคิดค้นโดย [[เอิร์นส์ท รุสกา]] ในปี พ.ศ. 2475 ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของ[[เซลล์]] โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษ
# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบชนิดส่องกราด]] (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดย[[เอ็ม วอน เอนเดนนี่]] สร้างสำเร็จในปี พ.ศ. 2481 ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ
{{โครงสิ่งประดิษฐ์}}
|
