ผลต่างระหว่างรุ่นของ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"

เนื้อหาที่ลบ เนื้อหาที่เพิ่ม
ZéroBot (คุย | ส่วนร่วม)
r2.7.1) (โรบอต เพิ่ม: war:Mikroskopyo elektroniko
Xqbot (คุย | ส่วนร่วม)
r2.7.3) (โรบอต เพิ่ม: sk:Elektrónový mikroskop; ปรับแต่งให้อ่านง่าย
บรรทัด 14:
# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน]] (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ซึ่งคิดค้นโดย [[เอิร์นส์ท รุสกา]] ในปี พ.ศ. 2475 ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของ[[เซลล์]] โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษ
# [[กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด]] (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดย[[เอ็ม วอน เอนเดนนี่]] สร้างสำเร็จในปี พ.ศ. 2481 ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ
{{โครงสิ่งประดิษฐ์}}
 
[[หมวดหมู่:ทัศนศาสตร์]]
[[หมวดหมู่:อุปกรณ์วิทยาศาสตร์]]
[[หมวดหมู่:จุลทรรศนศาสตร์]]
{{โครงสิ่งประดิษฐ์}}
 
[[af:Elektronmikroskopie]]
บรรทัด 62:
[[sh:Elektronski mikroskop]]
[[simple:Electron microscope]]
[[sk:Elektrónový mikroskop]]
[[sr:Elektronski mikroskop]]
[[stq:Elektronemikroskop]]