ผลต่างระหว่างรุ่นของ "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"

[[ไฟล์:Microscope-IMG 0518.jpg|thumb|กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน]]

 

ใช้เลนส์แม่เหล็กไฟฟ้าแทนเลนส์แก้วในกล้องจุลทรรศน์ธรรมดา เลนส์แม่เหล็กไฟฟ้านั้นประกอบด้วยขดลวดพันรอบแท่งเหล็ก เมื่อผ่านกระแสไฟฟ้าเข้าไปจะทำให้เกิดสนามแม่เหล็กขึ้น ซึ่งทำให้ลำแสงอิเล็กตรอนเข้มข้นขึ้นเพื่อไปตกอยู่ที่วัตถุที่ต้องการศึกษา เลนส์ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนนั้นประกอบด้วย เลนส์รวมแสง และโปรเจกเตอร์ เลนส์ โดย โปรเจกเตอร์เลนส์นั้นมีหน้าที่ฉายภาพ จากตัวอย่างที่ต้องการศึกษาลงบนจอภาพ ซึ่งจอภาพจะฉาบด้วยสารเรืองแสง เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนตกบนจอภาพจะทำให้เกิดการเรืองแสงที่สามารถมองเห็นได้ด้วยตาเปล่า ดังนั้นผู้ศึกษาจึงสามารถมองเห็นภาพบนจอและสามารถบันทึกภาพนั้นด้วยกล่องถ่ายรูปซึ่งประกอบอยู่ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้

 

แหล่งกำเนิดลำแสงอิเล็กตรอน คือ ปืนยิงอิเล็กตรอน ซึ่งมีลักษณะเป็นขดลวดตัววีทำจากทังสเตน อิเล็กตรอนจะถูกปล่อยออกมาหลังจากผ่านกระแสไฟฟ้าเข้าไปในขดลวด เนื่องจากอิเล็กตรอนมีขนาดเล็กมาก จึงต้องมีการดูดอากาศออกจากตัวกล้องให้เป็นสุญญากาศ เพื่อป้องกันการรบกวนของลำแสงอิเล็กตรอน และเพื่อป้องกันการเกิดการหักเห เนื่องมาจากการชนกันของมวลอากาศกับลำแสงอิเล็กตรอน

 

ในปัจจุบันกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมี 2 ชนิด

# กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ซึ่งคิดค้นโดย เอิร์นส์ท รุสกา ในปีพ.ศ. 2475 ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของ[[เซลล์]] โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องผ่านเซลล์หรือตัวอย่างที่ต้องการศึกษาซึ่งผู้ศึกษาต้องเตรียมตัวอย่างให้ได้ขนาดบางเป็นพิเศษ

# กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดยเอ็ม วอน เอนเดนนี่ สร้างสำเร็จในปีพ.ศ. 2481 ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ไดเภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ

[[หมวดหมู่:ทัศนศาสตร์]]

[[หมวดหมู่:อุปกรณ์วิทยาศาสตร์]]